測(cè)試參數(shù) C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR 

測(cè)試頻率 20 Hz～2MHz,10mHz步進(jìn) 

測(cè)試信號(hào)電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV） 

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV) 

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω 

基本準(zhǔn)確度 0.1% 

 L 0.0001 uH ～ 9.9999kH 

 C 0.0001 pF ～ 9.9999F 

 R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ 

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S 

 D 0.0001 ～ 9.9999 

 Q 0.0001 ～ 99999 

 θ -179.99°～ 179.99° 

測(cè)量速度 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校準(zhǔn)功能 開(kāi)路 / 短路點(diǎn)頻、掃頻清零，負(fù)載校準(zhǔn) 

等效方式 串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式 

量程方式 自動(dòng), 保持 

顯示方式 直讀, Δ, Δ% 

觸發(fā)方式 內(nèi)部, 手動(dòng), 外部, 總線 

技術(shù)：自主研發(fā)+高校實(shí)驗(yàn)室聯(lián)合開(kāi)發(fā)

品質(zhì)：對(duì)產(chǎn)品的精益追求+嚴(yán)格規(guī)范的測(cè)試

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